Optical constants and parameters of Urbach absorption edge for x-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 films

I.P. Studenyak, М.М. Поп, Mladen Kranjcec, Andriy M. Solomon, Nataliia V. Titova, Elena Sorochan, Paweł Komada, Indira Shedreyeva, G. Karnakova

2021

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)

DOI 10.1117/12.2607827

Достоверность данных 70 средняя

Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

(Ga0.3In0.7)2Se3 films were deposited by the thermal evaporation technique. As-deposited (Ga0.3In0.7)2Se3 films were irradiated using wideband radiation of Cu-anode X-ray tube at different exposure times. The spectral dependences of refractive index and extinction coefficient were measured by the spectral ellipsometry technique. The optical transmission spectra of X-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 films were studied depending on irradiation time. Parameters of Urbach absorption edge for X-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films were determined and compared with nonirradiated film. The spectral dependences of refractive indices of non-irradiated and X-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 films are described in the framework of Wemple and DiDomenico model. TThe variation of the parameters of Wemple and DiDomenico model for non-irradiated and X-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 films was discussed.