Optical constants and parameters of Urbach absorption edge for x-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 films

I.P. Studenyak, М.М. Поп, Mladen Kranjcec, Andriy M. Solomon, Nataliia V. Titova, Elena Sorochan, Paweł Komada, Indira Shedreyeva, G. Karnakova

2021

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)

DOI 10.1117/12.2607827

Деректер сенімділігі 70 орташа

Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

(Ga0.3In0.7)2Se3 films were deposited by the thermal evaporation technique. As-deposited (Ga0.3In0.7)2Se3 films were irradiated using wideband radiation of Cu-anode X-ray tube at different exposure times. The spectral dependences of refractive index and extinction coefficient were measured by the spectral ellipsometry technique. The optical transmission spectra of X-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 films were studied depending on irradiation time. Parameters of Urbach absorption edge for X-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films were determined and compared with nonirradiated film. The spectral dependences of refractive indices of non-irradiated and X-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 films are described in the framework of Wemple and DiDomenico model. TThe variation of the parameters of Wemple and DiDomenico model for non-irradiated and X-ray irradiated (Ga0.3In0.7)2Se3 films was discussed.