Noise analysis of CMOS-memristive and CMOS-resistive current mirrors

2018

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1109/coconet.2018.8476814
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

The abundance of application of current mirror circuits in practice requires constant improvement of the circuit for dealing with various types of noise and disturbances. Such methods include introduction of CMOS, BJT, Memristors and other devices. Dealing with noise results in the improvement of a circuit's performance. This paper aims to analyze the noise behavior in the current mirror with CMOS-memristor circuit. It is primary focusing on the noise analysis in self-biased high swing cascode current mirror. The analysis includes identification of the noise characteristics in resistive and memristive CMOS current mirrors and further comparison of these characteristics. It is expected that CMOS-memristor circuit is more resistant to noise, comparing to its CMOS-resistor analog.