On nanoheteromorphous structure in amorphous As2S3 films prepared by different methods

Sh.Sh. Sarsembinov, Oleg Yu. Prikhodko, A.P. Ryaguzov, Suyumbika Ya. Maksimova, Yevgeniya A. Daineko, Rinat M. Iskakov, Valeri Zh. Ushanov

2010

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)

DOI 10.1002/pssc.200982738

Достоверность данных 70 средняя

Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Abstract By the method of Raman spectroscopy as well as the methods of thermo‐gravimetric and differentially‐thermal analyses the structure of amorphous As2S3 films prepared by thermal evaporation in a vacuum and by radio frequency ion‐plasma sputtering has been studied. The techniques are strongly differing in the conditions of substance vaporization and condensation of atoms on a substrate. It was shown that the concept of nanoheteromorphism can be used to the description of these amorphous films structure. (© 2010 WILEY‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim)