Influence of Crystallization on the Properties of SnO2 Thin Films

2012

Полный текст Открытый доступ: Hybrid Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.5772/37253
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

The interest in the surface structures with their special properties has increased considerably due to extensive applications in microand optoelectronics. It is known that the properties of films of submicron size can be different from those of structures having macroscopic dimensions. The parameters that change the properties of films, are the thickness, number of layers, uniformity of the films, the size of clusters and nanocrystals. The presence of small particles and nano-sized elements leads to changes in material properties such as electrical conductivity, refractive index, band gap, magnetic properties, strength, and others (Suzdalev, 2006; Kobayashi, 2005).