Influence of Crystallization on the Properties of SnO2 Thin Films

2012

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Hybrid Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.5772/37253
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

The interest in the surface structures with their special properties has increased considerably due to extensive applications in microand optoelectronics. It is known that the properties of films of submicron size can be different from those of structures having macroscopic dimensions. The parameters that change the properties of films, are the thickness, number of layers, uniformity of the films, the size of clusters and nanocrystals. The presence of small particles and nano-sized elements leads to changes in material properties such as electrical conductivity, refractive index, band gap, magnetic properties, strength, and others (Suzdalev, 2006; Kobayashi, 2005).