Abstract
В работе представлены результаты исследований причин появления дефектов – зон побежа-лости – на золотых монетах казахстанского производства, увеличивающихся в процессе хранения. На осно-вании анализа зарубежных работ показано, что это явление наблюдается и в производстве монетных дво-ров других стран. Как показали результаты исследований с использованием метода рентгеноспектрального микроанализа, генезис указанных дефектов обусловлен попаданием на поверхность золотых монет микрочастиц серебра, а также сернистых соединений и влаги из атмосферного воздуха. В результате взаимодей-ствия образуются гемиоксид Ag2О и гемисульфид Ag2S.Образующийся на поверхности монет сернокислый электролит способствует миграции ионов серебра и увеличению размера дефектов. В зависимости от вре-мени, размер, толщина и состав очага питтинговой коррозии меняются, что обуславливает формирование «зон побежалости».