Abstract
Поверхні технічних об'єктів, які недоступні для візуального спостереження досліджені шляхом вивчення цифрових зображень, що містять інформацію про їх стан та якість. Отримані дані дозволяють порівнювати та визначати класи нормальних та аномальних цифрових зображень. Результати та висновки візуального аналізу були підтверджені статистичною обробкою матричних вимірювань цифрових зображень. У контексті відсутності апріорних даних щодо статистичних закономірностей експериментальних вимірювань яскравості цифрових зображень технічних об'єктів, що розробляються та недоступні для спостереження, їх стан та якість слід контролювати всебічно та поетапно. На першому етапі шляхом візуального аналізу цифрових зображень проводиться їх класифікація з виділенням класу аномальних цифрових зображень та класу зображень, поверхні яких вважаються нормальними. На другому етапі за допомогою статистичної обробки вимірювальних матриць формуються дані для візуально-аналітичного аналізу та перевірки гіпотез про стан контрольованих поверхонь технічних об'єктів та підтвердження результатів їх класифікації візуальним оглядом цифрових зображень. Методи обробки матриць експериментальних вимірювань - це оцінка їх математичних очікувань, дисперсій, коефіцієнтів кореляції, емпіричних функцій та законів розподілу ймовірностей. Ці інтегровані оцінки є інформативними показниками статистичної однорідності вимірювальних зразків як випадкових величин. Вони використовуються при проектуванні, розробці та випробуванні ракетно-космічних об’єктів. В результаті роботи запропоновано новий метод візуально-аналітичної обробки цифрових зображень для контролю поверхонь об'єктів ракетно-космічної техніки під час їх проектування та випробувань.