Abstract
\nМетодом атомной силовой микроскопии исследована морфология поверхности полиимидной пленки и системы «Полиимид – SiO наполнитель». На поверхности композита визуализированы неровности различного масштаба, представляющие собой глобулы полимера и их композиций с частицами наполнителя. Выявлены изменения поверхности полимерного композитного материала в результате введения в матрицу наполнителя мелкодисперсного SiO. Полученные в режиме фазового контраста изображения позволили заключить, что на поверхности композитного материала присутствуют более крупные структурные единицы, чем в полиимиде.\n