Secondary Electron Radiation from Different Targets Exposed to Photons with Energy 0.1 to 3 MeV

Avraham Akkerman, V.A. Botvin, M. Ya. Grudskii, V. V. Smirnov, G. Ya. Chernov, M. V. Shilenkova

1982

Достоверность данных 70 средняя

Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Abstract Differential and integral yields of secondary electrons from different targets bombarded by monoenergetic photon beams are calculated using the Monte Carlo method. The results are compared to experimental data and values calculated by other authors. The discovered 20 to 30% decrease of calculated backward yields according to experimental data for heavy elements is explained by the limited applicability of Sauter's formula for the description of photoelectron angular distribution.