Secondary Electron Radiation from Different Targets Exposed to Photons with Energy 0.1 to 3 MeV

Avraham Akkerman, V.A. Botvin, M. Ya. Grudskii, V. V. Smirnov, G. Ya. Chernov, M. V. Shilenkova

1982

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1002/pssb.2221100133
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Abstract Differential and integral yields of secondary electrons from different targets bombarded by monoenergetic photon beams are calculated using the Monte Carlo method. The results are compared to experimental data and values calculated by other authors. The discovered 20 to 30% decrease of calculated backward yields according to experimental data for heavy elements is explained by the limited applicability of Sauter's formula for the description of photoelectron angular distribution.