A High‐Detectivity, Fast‐Response, and Radiation‐Resistant TiN/CdZnTe Heterojunction Photodiode (Advanced Optical Materials 2/2023)

2023

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1002/adom.202370005
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Photodiodes have found wide practical applications as sensing and information transmission technology in different environments. Viktor Brus and co-workers (article number 2202028) report a novel high-performance UV-vis-NIR heterojunction photodiode based on radiation-resistant functional semiconductor materials: TiN ‘window’ layer and CdZnTe photoactive layer. This work pushes the current detectivity–response time boundaries, defined by the long-standing materials science and device engineering problems in developing concurrently highly sensitive, fast-responding, and radiation-resistant optoelectronic devices based on compound semiconductors.