ELECTROCHEMICAL NANOSTRUCTURING OF SEMICONDUCTOR WAFERS BY CAPILLARY-FORCE-ASSISTED METHOD

2010

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1142/s0219581x10006697
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Wafers of crystalline silicon (c-Si) and compound semiconductors (GaP, GaAs) were nanostructured by using the electrochemical etching in specially designed cells with two or more electrodes spaced at 100–500 μm distances, which allowed keeping the electrolyte due to capillary forces. Investigations by means of atomic force microscopy and optical spectroscopy revealed nanoporous and nanocrystalline structure of the prepared samples. The employed capillary-force-assisted method is promising for preparation of thin layers of nanostructured semiconductors with desired optical properties having advantages of cost saving, quickness and flexibility in the electrical contact arrangements versus conventional electrochemical etching methods.