ELECTROCHEMICAL NANOSTRUCTURING OF SEMICONDUCTOR WAFERS BY CAPILLARY-FORCE-ASSISTED METHOD

2010

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1142/s0219581x10006697
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Wafers of crystalline silicon (c-Si) and compound semiconductors (GaP, GaAs) were nanostructured by using the electrochemical etching in specially designed cells with two or more electrodes spaced at 100–500 μm distances, which allowed keeping the electrolyte due to capillary forces. Investigations by means of atomic force microscopy and optical spectroscopy revealed nanoporous and nanocrystalline structure of the prepared samples. The employed capillary-force-assisted method is promising for preparation of thin layers of nanostructured semiconductors with desired optical properties having advantages of cost saving, quickness and flexibility in the electrical contact arrangements versus conventional electrochemical etching methods.