Comparative analysis of silicon nanostructures by x-ray diffraction technique

2019

Полный текст Открытый доступ: Gold Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1088/1757-899x/475/1/012010
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Silicon nanoparticles and nanowires prepared by using different methods were investigated by means of x-ray diffraction (XRD) technique. Broadening of the XRD lines of crystalline Si lattice allows us to estimate the mean size of nanoparticles. Silicon nanoparticles stored in aqueous suspensions for several days were found to decrease their sizes due to dissolution process. The kinetics of dissolution for different kinds of nanoparticles were found to be different. It was also shown that the most unstable nanoparticles (microporous silicon ones) could be protected from dissolution via interaction with the polysaccharide molecules (dextrane) into the solution.