Comparative analysis of silicon nanostructures by x-ray diffraction technique

2019

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Gold Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1088/1757-899x/475/1/012010
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Silicon nanoparticles and nanowires prepared by using different methods were investigated by means of x-ray diffraction (XRD) technique. Broadening of the XRD lines of crystalline Si lattice allows us to estimate the mean size of nanoparticles. Silicon nanoparticles stored in aqueous suspensions for several days were found to decrease their sizes due to dissolution process. The kinetics of dissolution for different kinds of nanoparticles were found to be different. It was also shown that the most unstable nanoparticles (microporous silicon ones) could be protected from dissolution via interaction with the polysaccharide molecules (dextrane) into the solution.