Quantum-mechanical model of thermally stimulated depolarization in layered dielectrics at low temperatures

2021

Полный текст Открытый доступ: Gold Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1088/1742-6596/1843/1/012011
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Abstract Built the quantum-mechanical scheme for investigating the spectrum of thermally stimulated currents of depolarization (TCDP), which allows to study the processes of relaxation of hetero-and homo-charge in hydrogen bonded crystals (HBC) with complex crystalline structure (layered silicates, crystal-hydrates), taking into account the distribution of relaxers (protons) over the energy levels of the quasi-discrete spectrum in potential image of the crystal lattice, and allows us to calculate the parameters of low-temperature relaxers by the Klinger method in the quadratic approximation over the external electric field. However, the calculation of the excess proton concentration operator was carried out in the quasi-classical approximation on the basis of the Fokker-Planck operator equation, which is solved together with the Poisson operator equation. By method of density matrix in the quadratic approximation in the external field calculated thermally stimulated depolarization currents on the basis of which the investigated size effects in the nanometer size layers associated with the shift of the maximum current of thermo-depolarization to low temperatures while reducing the thickness of the crystal layer.