Characteristics of Secondary Electrons Ejected from Solid Targets by Multiply Charged Ions with Energy up to 20 MeV/Nucleon

1981

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1002/pssb.2221050203
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Abstract Detailed characteristics of secondary electron emission from silicon after bombardment by multiply charged ions Al, C, O, Ca, Si, Fe with energies up to 20 MeV/nucleon are deduced from Monte‐Carlo simulations. The calculated integral yields η in forward direction to approach the η—Zeff law. The discrepancies between calculated and experimental data for fission fragments are discussed. Limits for ion charge resolution by secondary particle counting are obtained.