Clustering of defects and impurities in hydrogenated single-crystal silicon

2002

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1134/1.1461395
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Data obtained to date on specific features of defect formation for hydrogenated single-crystal Si are analyzed. It was demonstrated that, in addition to other effects, interaction of H atoms with radiation defects and impurities leads to the formation of large clusters of three main types, namely, vacancy, interstitial, and impurity clusters. The main condition for formation of these clusters is the simultaneous presence of supersaturated solutions of H and defects in the sample. The interaction of H atoms with impurities and defects initiates the decomposition of the supersaturated solid solution of defects and impurities with the formation of precipitates. This leads to the formation of clusters, which are not observed in the absence of H. The mechanisms of formation and structure of clusters are discussed.