Inversion of the impurity conductivity sign in As2Se3:Bi films deposited by two different methods

2012

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1134/s1063782612100028
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

It is demonstrated that As2Se3:Bi x films deposited by thermal evaporation have p-type impurity conductivity, whereas films of the same composition, produced by ion-plasma cosputtering in vacuum exhibit n-type impurity conductivity. On the basis of these results, a new method is suggested for the fabrication of p-n homojunctions in film structures made of chalcogenide glassy semiconductors doped with bismuth in various ways.