Influence of hydrogen plasma processing on gas-sensitive tin dioxied thin film properties

2000

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1117/12.408464
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

The influence of glow discharge hydrogen plasma processing on undoped tin dioxide (SnO2) thin film structure and properties have been investigated. The films of 150 - 200 nm thickness were deposited by a method of magnetron sputtering on Al2O3 substrate at the temperature of this one 250 degree(s)C with a rate of 1.5 - 2.0 nm/min in argon-oxygen mixture atmosphere. It was shown these films are amorphous just after fabrication, theirs polycrystalline structure appears after annealing and disappears after processing in the hydrogen plasma. Such a processing expands a temperature range of film sensitivity to ethanol and heptane vapors, increases the sensitivity to low concentration of those.