Model of a single-electron transistor based on endohedral fullerene (Sc3N)@C80

2021

Полный текст Открытый доступ: Gold Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1088/1742-6596/2140/1/012006
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Abstract In this work within the framework of the density functional theory and the method of nonequilibrium Green’s functions the dependences of the total energy of molecules C80-SET and (Sc3N)@C80 - SET on their total charge, the dependence of the total energy from the gate voltage and the stability diagram of the single-electron transistor have been determined. It is noted that for transition to switch to on mode (Sc3N)@C80-SET it is necessary to apply the gate voltage in the range from 0.019 ≤ VG ≤ 5.940 with the bias voltage -2.040 ≤ VSD ≤ 2.155 V. Considering that at values of bias voltage equal to –0.381 ≤ VSD ≤ 0.533 V there is no voltage on the substrate (VG = 0 V) and electric current does not flow. It is shown that the total energy at negative values of charge is higher than at positive charges and that the area of the Coulomb rhombus in fullerene with scandium nitride is 5.3 times larger than in “pure” fullerene.