Spectra of polycrystalline and single-crystal silicon for solar cells measured by deep-level transient spectroscopy

1997

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1134/1.1261566
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Investigations are reported concerning the spectra of polycrystalline and single-crystal silicon for solar cells. A broad peak is observed in the distribution of traps in the silicon of commercial solar batteries. It is proposed that they are due to residual impurities. The peaks are suppressed by hydrogen passivation.