Thin-film polycrystalline n-ZnO/p-CuO heterojunction

2009

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1134/s1063782609060153
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Results of X-ray diffraction and spectral-optical studies of n -ZnO and p -CuO films deposited by gas-discharge sputtering with subsequent annealing are presented. It is shown that, despite the difference in the crystal systems, the polycrystallinity of n -ZnO and p -CuO films enables fabrication of a heterojunction from this pair of materials.