Parameter‐Free Calculation for the Optical Bandgap Energies of InGaAlN

2024

Полный текст Открытый доступ: Hybrid Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1002/pssb.202400107
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

The accurate prediction of bandgap energy Eg is crucial for the future development of semiconductors. Ab initio simulation studies have been undertaken to unravel the intricacies of compound semiconductors. However, traditional density functional theory estimates Eg to be mostly 30–50% smaller than experimental values. To reconcile these disparities, fitting parameters such as U have been employed, albeit at the expense of violating the virial theorem's essential conditions. In our pursuit of a more accurate approach, utilizing a computational method that adheres to virial's theorem without resorting to fitting parameters is proposed. Employing the self‐consistent Green‐function vertex (GW) approximation calculation, standard phenomenological results are built upon as an initial condition. This novel methodology successfully resolves the long‐standing issue surrounding Eg of InN, a nitride semiconductor InGaAlN known for blue light‐emitting diodes. The numerical results from our calculations demonstrate a remarkable alignment with experimental values across the entire InxGa1−xN range, with an impressive accuracy of 0.1 eV. This innovative method holds promise for application to various semiconductors, serving as a potent tool for predicting new semiconductors with small Eg. This calculation method is also applied to Eg of In1−xAlxN and Ga1−xAlxN.