Effect of annealing and hydrogen plasma treatment on the luminescence and persistent photoconductivity of polycrystalline ZnO films

2017

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1063/1.4989826
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Photoluminescence (PL) and electrical properties of boron doped zinc oxide (ZnO) thin films, deposited by metalorganic chemical vapour deposition on a glass substrate, were investigated. The effects of annealing in air, as well as the influence of the radiofrequency—plasma treatment in hydrogen atmosphere, on the PL and electrical conductivity of the ZnO films were studied. A correlation between photoluminescence and electrical properties during annealing was observed. Hydrogen plasma treatment causes an increase in the carrier mobility and concentration and results in a very intensive near band edge emission (NBE). It was found that defects responsible for the dramatic increase in the intensity of NBE band in the hydrogen-treated ZnO films are hydrogen-related complexes formed near or at the surface of the samples. The intensity of NBE in hydrogen-treated samples decreases after aging in the dark, and, conversely, the NBE intensity increases under UV light illumination. This effect is fully reversible and depends on the gas atmosphere during the UV exposure and subsequent aging. It was proposed that the NBE band in the ZnO films annealed in the air and treated in hydrogen plasma emerges due to O-H complexes forming at zinc vacancy sites, n(O-H)-VZn.