Copper nanostructures into pores of SiO2/Si template: galvanic displacement, chemical and structural characterization

2019

Закрытый доступ Метаданные (CSL-JSON)
DOI 10.1088/2053-1591/ab3b8b
Достоверность данных 70 средняя
Как считается эта оценка

Складывается из проверяемых признаков самой записи: есть ли у статьи DOI, сколько независимых источников подтвердили её данные, заполнены ли обязательные поля и насколько свежо последнее подтверждение. Снижают оценку расхождения между источниками и отсутствие идентификатора. Значение от 80 означает, что запись опубликована без дополнительной проверки; от 60 до 79 — что она опубликована с пониженной достоверностью и ручная проверка желательна. Запись, выверенную редактором вручную, пересчёт не опускает ниже 90. Это оценка наших данных о статье, а не оценка самой статьи.

Аннотация

Copper nanostructures into pores of SiO2/Si template: galvanic displacement, chemical and structural characterization, Yakimchuk, D V, Khubezhov, S A, Bundyukova, V D, Kozlovskiy, A L, Zdorovets, M V, Shlimas, D I, Tishkevich, D I, Kaniukov, E Yu