Nanoscale displacement measurement

2019

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1504/ijnt.2019.106607
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Research in the field of nanotechnology requires high accuracy and reliability of the obtained results, i.e., an appropriate metrological support of instruments and equipment is needed, which is used in the measurement of linear dimensions, movements, speeds and accelerations of nano-objects. These high-precision systems and instruments need special methods and means of verification/calibration. For measuring linear displacements in the nano-range, non-destructive optical methods of laser interferometry and phasemetery are most promising, providing high sensitivity ~ 10-9 m to the object displacement, high locality, absolute calibration character of measurements in portions of the laser wavelength, and the ability to automate the obtaining and processing of measuring information. In this work, a study of actuator characteristics depending on the applied voltage is considered. The developed 'interferometerphase meter' measuring system allows online investigating of complex piezoceramic structures used in various devices as actuators and the study of object characteristics under the different influences: pulsed and harmonic forms of applied voltage.