BOUNDARY PROCESSES IN ELECTROLYTE — SILICON INTERFACE AREA DURING SELF–ORGANIZATION OF MOSAIC STRUCTURE OF 3D–ISLANDS OF POROUS SILICON NANOCRYSTALLITES AT LONG–TERM ANODE ETCHING OF P–SI (100) IN ELECTROLYTE WITH AN INTERNAL SOURCE OF CURRENT

2015

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Hybrid Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.17073/1609-3577-2014-1-31-36
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

The formation and self−organization of porous silicon (por-Si) surface mosaic structure at long anodic etching of p -type conductivity Si (100) ( p -Si) in electrolytes with an internal power source has been considered. We show that the formation of 3D islets of mosaic structure nanocrystallites of por-Si occurs with the participation of the adsorbed deposited silicon atoms formed as a result of disproportioning reactions at etching of silicon single crystals, as is the case for epitaxial growth of nanocrystallites with molecular beam deposition of silicon atoms on А 3 В 5 and Si semiconductor surface and their further spontaneous self−organization. We note the significant role of oxidation of the silicon surface in the formation and self−organization of a mosaic structure of por-Si during long-term anodic etching of p -Si (100) in HF : H2O2 electrolyte quantum−size and effects occurring in local areas of atomic rough surfaces real crystal silicon.