Барлық параметрлер сіздің құрылғыңызда сақталады.
2020
Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.
(Ga0.4In0.6)2Se3 thin films were deposited by thermal evaporation technique. Refractive index and extinction coefficient dispersions were obtained from the spectral ellipsometry measurements. The dispersion of refractive index is described in the framework of Wemple-DiDomenico model. The energy pseudogap and Urbach energy were determined from the optical absorption spectrum of (Ga0.4In0.6)2Se3 thin film. Optical parameters of (Ga0.4In0.6)2Se3 thin film and single crystal were compared.