Low-Period Multilayer Ti/NixMoy Films with Variable Quasi-Homogeneous Structure for Neutron Reflectometry

2023

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1134/s1027451023040225
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Abstract The results of testing multilayer Ti/NixMoy heterostructures with a low period of the sublayers are presented regarding the practical applicability of a quasi-homogeneous approach with varying effective scattering length density of thin (thickness <100 nm) films in experiments on specular neutron reflectometry with a changing interface. By changing the effective scattering-length density of the films, it is proposed to vary the contrast between the components of complex interfaces, thus increasing the sensitivity and information content of the in situ neutron experiment. Structures with different ratios of the NixMoy- and Ti-sublayer thicknesses are synthesized by magnetron sputtering. Based on analysis of the neutron specular reflectivity curves, a conclusion is made about the applicability of the homogeneous approximation.