Functional IN CIRCUIT tester with FPAA

2023

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1109/sami58000.2023.10044515
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

In-circuit (ICT) and in-board (IBT) testers are commonly used in industrial environments to support electronics manufacturing. Each of these performs a parametric measurement that checks the voltage values at each measured point and compares them to a value in a database. These devices perform measurements based on the method of nodal potentials.The fact that the measured values can be set, parameterized and programmed makes them very convenient to use, making them ideal for performing a fault detection and analysis measurement in support of production. Programming the equipment requires a high level of expertise and knowledge of electronic circuits. To replace these measuring and testing devices, we provide in this article a recommendation, a cost-effective solution.