Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires

K.K. Dikhanbayev, Vladimir A. Sivakov, Florian Talkenberg, Gauhar Mussabek, Ye. T. Taurbayev, N.N. Tanatov, Yerkin Shabdan

Physical Sciences and Technology, 2015

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Gold Метадеректер (CSL-JSON)

DOI 10.26577/2409-6121-2015-2-2-4-11

Деректер сенімділігі 70 орташа

Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

In this paper we consider the formation on the surface of silicon by metal-induced chemical etching, the silicon nanowires and the study of their electron (SEM) and (TEM) microscopy, X-ray diffraction (EDX) analysis and electron backscatter diffraction (EBDS) in nanowires. Combination of field emission SEM and EBSD possible to determine the orientation of the individual grains, the local texture oriented correlation on solid surfaces of polycrystalline material. This method of producing silicon nanowires has a number of the above-mentioned advantages over other methods. In addition, the studied objects themselves exhibit interesting optical properties, such as the localization of light, photoluminescence (PL), very low reflectance ( 90% at 500 nm).