A SEMI-ANALYTICAL METHOD FOR SOLVING INVERSE PROBLEMS OF WAVE DIFFRACTION BY INHOMOGENEOUS LAYERS

2015

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1615/telecomradeng.v74.i11.10
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

A semi-analytical method is suggested for solving inverse problems of recovering the relative permittivity profile of inhomogeneous anisotropic layers from frequency dependences of the reflection factor of plane monochromatic electromagnetic waves. The method proceeds from the idea of reducing the initial inverse problem to the optimal control problem for the Riccati equation. The procedure of constructing the solution of this problem is based on the use of the semi-analytical method of solving direct problems of monochromatic plane wave diffraction by an inhomogeneous layer and a suggested algorithm of calculating the gradient of the smoothing discrepancy functional. The developed algorithms of solving the direct and inverse problems of wave diffraction by inhomogeneous layers are used to perform a set of numerical experiments in order to demonstrate efficiency of the suggested technique for indirect recovering parameters of structures of the kind.