On-chip measurements of standard-cell propagation delay

2010

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1109/ewdts.2010.5742113
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

We report on implementation of random sampling methodology for on-chip measurements of the pin-to-pin propagation delay of single standard cells of core library. A test chip has been implemented in 0.13 μm GL130SB (130 nm Logic Process) technology at Dongbu HiTek and used to monitor up to picosecond's timing behavior of 32 DUT's of core library. Observed mismatch between simulated and measured parameters helps to improve and verify library cell models.