InGaAsP-InP ridge-waveguide DBR lasers with first-order surface gratings fabricated using CAIBE

Robert M. Lammert, A.M. Jones, Chris Youtsey, J.S. Hughes, S.D. Roh, I. Adesida, J. J. Coleman

1997

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1109/68.634703
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

The design and operation of InGaAsP-InP ridge-waveguide (RW) distributed Bragg reflector (DBR) multiple quantum-well lasers with first-order surface gratings are presented. The RW DBR lasers are fabricated using only a single growth step without growth on a corrugated surface. Uncoated devices with grating etch depths of 0.6 and 0.5-μm exhibit pulsed threshold currents of 32 and 43 mA with slope efficiencies of 0.34 and 0.24 W/A, respectively. The device with a grating etch depth of 0.5-μm operates on a single longitudinal mode with about 40 dB side-mode suppression. All these results are from devices with Bragg condition wavelengths which are red-shifted from the peak spontaneous emission wavelength by over 400 /spl Aring/.