Photoadsorption processes on the surface of silicon dioxide

2026

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Gold Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.34049/bcc.58.1.aesmt25-18
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

The photoadsorption of O2 on SiO2 was investigated as a function of pre-treatment temperature varying from 200 to 1000 °C.The maximum photoadsorption activity was observed at a pre-treatment temperature of 800 °C.Photosorption activity is dependent on both intensity and wavelength of the incident light.The relationship between photoadsorption rate and wavelength follows a logarithmic trend.Dehydroxylation and dehydration of the silicon dioxide samples were studied using IR spectroscopy.It was found that UV irradiation leads to a decrease in the intensity of OH-group signals, while oxygen photoadsorption results in a partial restoration of surface hydroxyl groups.