Fabrication of nanostructured silicon surface using selective chemical etching

2017

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1134/s106378421711024x
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

A two-stage process based on selective chemical etching induced by metal nanoclusters is used to fabricate nanostructured surfaces of silicon plates with a relatively low reflectance. At silicon surfaces covered with silver nanoclusters, the SERS effect is observed for rhodamine concentrations of about 10 –12 M. At certain technological parameters, the depth of the nanostructured layer weakly depends on the conditions for the two-stage etching, in particular, etching time. Under otherwise equal conditions for etching, the rate of the formation of textured layer in the p-type silicon is two times greater than the formation rate in the n-type silicon.