Theory of photoreactive effect in bipolar and MOSFET transistors

2019

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Green Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1117/12.2538264
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

The paper deals with the fundamentals of the theory of photoreactive effect in bipolar and field-effect transistor structures. Photoreactive properties of semiconductor devices are widely used in a variety of radio electronics devices. Therefore, the study of these phenomena in bipolar transistor structures with negative resistance, allows us to create new sensory devices, which have better parameters than existing ones. The method of construction of radiomeasuring microelectronic transducers is offered on the base of photoreactive effect in sensing bipolar and field transistor structures, that has established premises for embodying transducers of optical radiation with a frequency output signal.