Investigation of Photoluminescence and Raman Emission of Porous Gallium Phosphide

2024

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1109/elnano63394.2024.10756876
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

This article presents a study of porous gallium phosphode (GaP) utilizing photoluminescence (PL) and Raman spectroscopy, followed by its synthesis by electrochemical etching. The investigation identifies a blue shift in the PL peak, indicative of quantum confinement phenomena, and spectral confirmation of structural integrity through Raman analysis. Deconvolution of the PL emission into Gaussian components further demarcates a complex defect structure. These results contribute significantly to the discussion on the impact of nanostructuring on semiconductor properties, providing a pathway to the refined application of GaP in optoelectronic device engineering.