Influence of external factors on optical parameters in Cu6PS5I thin films

2015

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1117/12.2229338
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Cu6PS5I superionic thin films were deposited onto silicate glass substrates by non-reactive radio frequency magnetron sputtering. Optical transmission spectra of annealed and implanted by sulphur and phosphorous thin films were investigated. In the temperature interval 77–300 K the temperature behavior of optical absorption spectra and dispersion of refractive index of annealed films as well as the influence of ionic implantation on spectra and parameters of exponential absorption edge were studied. Temperature dependences of optical pseudogap, Urbach energy and refractive index of annealed and implanted Cu6PS5I thin films were analysed.