Stability of color centers in LiYF4crystals at low temperatures

В. М. Лисицын, Yevgeniy V. Bikhert, Vladimir I. Korepanov, Л. А. Лисицына, Alma K. Dauletbekova, A. T. Akylbekov, V. M. Reĭterov

2012

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1088/1757-899x/38/1/012039
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

This paper presents the results of examining the stability of induced radiation defects in crystals at 15K. The following regularities have been established. Defects induced at low temperatures in pure and Nd 3+ doped LiYF4 crystals are unstable: upon termination of radiation, even at 15K induced color centers are visibly destructed, exposure to the halogen lamp light increases the destruction speed significantly. Heating crystals up to 80K results in complete destruction of color centers induced at 15К.