Proximal probe-like nano structuring in metal-assisted etching of silicon

AIP Advances, 2019

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Gold Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1063/1.5096659
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

We use silicon having multiple crystalline orientation domains and high metal doping in metal assisted chemical etching (MACEtch) in HF/H2O2. In device-quality silicon, MACEtch produces high-aspect ratio anisotropic (1-D) structures (wires, columns, pores or holes) and to a lesser degree non-high-aspect ratio luminescent (0-D) nano structures. While the 1-D structure symmetry is understood in terms of crystallography axis-dependent etching, predominantly along the <100> direction, the isotropic 0-D spherical symmetry etching is not understood. We observe in silicon having multiple crystalline orientation domains formation of metal tips (needles or whiskers) of diameters as small as 2-3 nm that bridge the metal to silicon and cause AFM/STM-like nanofabrication, producing 0-D mounds, indentations, or clusters. The formation of sharp needles can be understood in terms of charge injection/electric breakdown between metal clusters and silicon due to charge build-up. Silicon with high degree of impurities as well as with multiple crystalline orientation domains allow imaging these effects using electron spectroscopy without cross sectional cuts.