Impact of Gamma-Ray radiation on SiO2 hydroxyl cover

2024

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1063/5.0193755
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Results of studying impact of gamma-rays on adsorptive properties of silicon dioxide (SiO2) of various types are presented in this research paper.Temperature and dose dependencies of adsorption of oxygen and hydrogen on silicon dioxide samples undergone preliminary heat treatment within a temperature range 200-800°С were investigated.Manometric methods, infrared, electron paramagnetic resonance spectrometric methods were used.As a result the following was established: adsorption centers are appearing under exposure to radiation either having paramagnetic properties or without them.Dependence of accumulation of adsorption centers on preliminary annealing temperature and radiation dosage is observed [1-3].