Electron microscopic study of thin CdS films

2013

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1134/s1027451013130053
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

The results obtained by investigating the surface morphology and optical properties of thin CdS films formed on transparent glass and glass/indium-tin oxide (ITO) substrates via the chemical and electro-chemical methods are presented. Thin cadmium sulfide films are employed as optical windows in thin-film polycrystalline solar cells. Closely packed cadmium sulfide nanoparticles are observed on the conducting oxide (ITO) surface by means of atomic-force microscopy. Large particles (150–300 nm) comprise smaller particles with sizes of 20–30 nm. Thin CdS layers are characterized by a relatively high level of transmission (∼60%) in the long-wavelength spectral region (520–600 nm).