Genetic algorithm initialized artificial neural network based temperature dependent small‐signal modeling technique for GaN high electron mobility transistors

2021

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1002/mmce.22542
Деректер сенімділігі 85 жоғары
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

This paper explores and develops efficient temperature-dependent small-signal modeling approaches for GaN high electron mobility transistors (HEMTs). The multilayer perceptron (MLP) architecture and cascaded MLP architecture of artificial neural network are employed to model temperature dependence of 2-mm GaN-on-silicon device. It is identified that both architectures face problem of dependence on initials values of weights and biases. To overcome this issue, the genetic algorithm (GA) is incorporated in both MLP and cascaded MLP architectures. The models are trained on a large set of operating conditions (bias voltages and ambient temperatures) over a frequency range of 0.1 to 20 GHz and then tested for both temperature interpolation and extrapolation cases to assess their accuracy and robustness. An excellent agreement between the measured and the modeled S-parameters over the entire frequency range demonstrate the quality and robustness of the proposed technique. It is also shown that the cascaded MLP with GA exhibits better performance but with increased complexity.