Transition from the amorphous to crystalline phase in N2O

1996

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1063/10.0033984
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Transmission electron-diffraction studies are carried out on N2 O films grown at temperatures 11–18 K and heated slowly to 45 K. The available structural data make it possible to identify the abrupt change in the intramolecular reflection bands observed earlier for N2O films (A. S. Drobyshev et al., Fiz. Nizk. Temp. 20, 600 (1994) [Low Temp. Phys. 20, 475 (1994)]) as a crystallization transformation in which the amorphous component (whose existence at low temperatures is an anomaly exhibited only by N2O cryocrystals; N. V. Krainyukova and M. A. Strzhemechny, Fiz. Nizk. Temp. 21, 1254 (1995) [Low Temp. Phys. 22, 960 (1995)]) loses its metastability near 39–42 K and is transformed into the Pa3 structure as a result of rapid crystallization.