Comparison of atomic structures and electronic properties of amorphous AsSe films

2001

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1088/0268-1242/16/10/310
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

The atomic structure and electrical and optical properties of amorphous AsSe films prepared by thermal evaporation in a vacuum and by rf ion-plasma sputtering have been studied. The conductivity, activation energy of conductivity, optical gap, radii of the first and second coordination spheres, number of the nearest neighbours of arsenic and selenium atoms in the first coordination sphere and dimensions of the medium-range order domain in the atomic structure have been determined for the samples studied. Films prepared by different methods have dissimilar electrical and optical parameters and show differences in atomic structure, mainly related to the dimensions of the medium-range order domains. A conclusion is made that it is the medium-range order in the amorphous film atomic structure in the As-Se system that governs the electronic structure of amorphous films of the As-Se system.