Depth profiles of aggregate centers and nanodefects in LiF crystals irradiated with 34 MeV 84Kr, 56 MeV 40Ar and 12 MeV 12C ions

Alma K. Dauletbekova, Vladimir A. Skuratov, Nikita S. Kirilkin, Ilze Manika, Janis Maniks, R. Zabels, Abdirash T. Akilbekov, Alexander E. Volkov, M. Baizhumanov, Maxim Vladimirovich Zdorovets

Тағы 1 автор

Aibek S. Seitbayev

2018

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Green Метадеректер (CSL-JSON)

DOI 10.1016/j.surfcoat.2018.03.096

Деректер сенімділігі 70 орташа

Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.