Deformation-stimulated Ex luminescence in a RbI single crystal

2019

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1063/1.5125992
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Using X-ray luminescence spectra, the enhancement of both σ-luminescence of self-trapped excitons and Ех luminescence (band maxima at 3.89 and 3.1 eV, respectively) has been revealed for the first time in RbI single crystals exposed to elastic uniaxial stress at 93 K. The intensity of these emissions increases linearly with the relative degree of applied uniaxial deformation of the crystal up to ɛ = 1%, while the luminescence undergoes saturation at higher values of ɛ. The behavior of the I = f (ɛ) dependence for σ and Ех emissions suggests that Ех luminescence is intrinsic, and is connected with the radiative relaxation of self-trapped excitons in the field of local deformation of a RbI regular lattice.